Joan edukira

Надежность твердых интегральных схем

Рассматриваются основные аспекты надежности полупроводниковых интегральных схем.

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile Nagusiak: Ефимов И. Е., Кальман И. Г., Мартынов В. И.
Formatua: Liburua
Argitaratua: НБ СевКавГТУ
Gaiak:
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!