Saltar ao contenido

Надежность твердых интегральных схем

Рассматриваются основные аспекты надежности полупроводниковых интегральных схем.

Gardado en:
Detalles Bibliográficos
Главные авторы: Ефимов И. Е., Кальман И. Г., Мартынов В. И.
Formato: Libro
Publicado: НБ СевКавГТУ
Темы:
Метки: Engadir etiqueta
Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!