Химико-спектральный анализ веществ высокой чистоты
В монографии обсуждаются вопросы концентрирования микропримесей, а также послойного химико-спектрального анализа объектов микроэлектроники.
שמור ב:
Главные авторы: | Юделевич И. Г., Буянова Л. М., Шелпакова И. Р., Пещевицкий Б. И. (340) |
---|---|
פורמט: | ספר |
יצא לאור: |
НБ СевКавГТУ
|
נושאים: | |
תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
פריטים דומים
-
Рентгеновская дифрактометрия
מאת: Хейкер Д. М., и др. -
Радиоприемные и усилительные устройства
מאת: Семенов К. А. -
Физико-химические основы технологии монокристаллов
מאת: Синельников Б. М. -
Получение и анализ веществ особой чистоты
מאת: Божевольнов Е. А., и др. -
Расчет многослойных железобетонных конструкций с монолитной связью слоев монография
מאת: Король, Е. А.