Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
В книге детально и четко описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии.
Tallennettuna:
| Päätekijät: | , , , |
|---|---|
| Aineistotyyppi: | Kirja |
| Julkaistu: |
НБ СевКавГТУ
|
| Aiheet: | |
| Tagit: |
Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|