Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
В книге детально и четко описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии.
Uloženo v:
| Hlavní autoři: | , , , |
|---|---|
| Médium: | Kniha |
| Vydáno: |
НБ СевКавГТУ
|
| Témata: | |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|