Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
В книге детально и четко описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии.
Saved in:
| Main Authors: | , , , |
|---|---|
| Format: | Book |
| Published: |
НБ СевКавГТУ
|
| Subjects: | |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|