Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
В книге детально и четко описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии.
Сохранить в:
| Главные авторы: | , , , |
|---|---|
| 格式: | 圖書 |
| 出版: |
НБ СевКавГТУ
|
| 主題: | |
| 標簽: |
添加標簽
沒有標簽, 成為第一個標記此記錄!
|