Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
В книге детально и четко описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии.
Сохранить в:
| Главные авторы: | , , , |
|---|---|
| 格式: | 图书 |
| 出版: |
НБ СевКавГТУ
|
| 主题: | |
| 标签: |
添加标签
没有标签, 成为第一个标记此记录!
|