Aller au contenu

Фрактальные закономерности и модельные представления процессов переключения поляризации сегнетоэлектриков при диагностике методами растровой электронной микроскопии

В монографии представлены результаты развития многоаспектного подхода к изучению самоподобной динамики сегнетоэлектрических доменных структур при исследовании методами растровой электронной микроскопии. Представлены оценки скейлинговых характеристик геометрии статических и динамических доменных конф...

Description complète

Enregistré dans:
Détails bibliographiques
Auteur principal: Барабаш, Т. К. (070)
Format: Книга
Sujets:
Accès en ligne:Перейти к просмотру издания
Tags: Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!