Фрактальные закономерности и модельные представления процессов переключения поляризации сегнетоэлектриков при диагностике методами растровой электронной микроскопии
В монографии представлены результаты развития многоаспектного подхода к изучению самоподобной динамики сегнетоэлектрических доменных структур при исследовании методами растровой электронной микроскопии. Представлены оценки скейлинговых характеристик геометрии статических и динамических доменных конф...
שמור ב:
מחבר ראשי: | |
---|---|
פורמט: | Книга |
נושאים: | |
גישה מקוונת: | Перейти к просмотру издания |
תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|