Anar al contingut

Применение инфракрасной спектроскопической эллипсометрии в наноинженерии монография

Монография посвящена применению метода ИК-спектроскопической эллипсометрии для исследований и диагностики наноматериалов и наноразмерных многослойных гетероструктур. Плодотворность использования данного метода нанодиагностики обусловлена тем, что, с одной стороны, метод является неразрушающим, а с д...

Descripció completa

Guardat en:
Dades bibliogràfiques
Autor principal: Макеев, М. О. (070)
Format: Книга
Matèries:
Accés en línia:Перейти к просмотру издания
Etiquetes: Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!