Saltar ao contenido

Применение инфракрасной спектроскопической эллипсометрии в наноинженерии монография

Монография посвящена применению метода ИК-спектроскопической эллипсометрии для исследований и диагностики наноматериалов и наноразмерных многослойных гетероструктур. Плодотворность использования данного метода нанодиагностики обусловлена тем, что, с одной стороны, метод является неразрушающим, а с д...

Descrición completa

Gardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Макеев, М. О. (070)
Formato: Книга
Темы:
Acceso en liña:Перейти к просмотру издания
Метки: Engadir etiqueta
Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!