コンテンツを見る

Применение инфракрасной спектроскопической эллипсометрии в наноинженерии монография

Монография посвящена применению метода ИК-спектроскопической эллипсометрии для исследований и диагностики наноматериалов и наноразмерных многослойных гетероструктур. Плодотворность использования данного метода нанодиагностики обусловлена тем, что, с одной стороны, метод является неразрушающим, а с д...

詳細記述

保存先:
書誌詳細
第一著者: Макеев, М. О. (070)
フォーマット: Книга
主題:
オンライン・アクセス:Перейти к просмотру издания
タグ: タグ追加
タグなし, このレコードへの初めてのタグを付けませんか!