Przejdź do treści

Применение инфракрасной спектроскопической эллипсометрии в наноинженерии монография

Монография посвящена применению метода ИК-спектроскопической эллипсометрии для исследований и диагностики наноматериалов и наноразмерных многослойных гетероструктур. Плодотворность использования данного метода нанодиагностики обусловлена тем, что, с одной стороны, метод является неразрушающим, а с д...

Szczegółowa specyfikacja

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Макеев, М. О. (070)
Format: Книга
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:Перейти к просмотру издания
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!