Перейти до змісту

Применение инфракрасной спектроскопической эллипсометрии в наноинженерии монография

Монография посвящена применению метода ИК-спектроскопической эллипсометрии для исследований и диагностики наноматериалов и наноразмерных многослойных гетероструктур. Плодотворность использования данного метода нанодиагностики обусловлена тем, что, с одной стороны, метод является неразрушающим, а с д...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Автор: Макеев, М. О. (070)
Формат: Книга
Предмети:
Онлайн доступ:Перейти к просмотру издания
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!