Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...
সংরক্ষণ করুন:
| প্রধান লেখক: | |
|---|---|
| বিন্যাস: | Книга |
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | Перейти к просмотру издания |
| ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|
| দৈহিক বর্ননা: | Книга находится в премиум-версии IPR SMART. |
|---|---|
| আইসবিএন: | 978-5-9795-2000-1 |