Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...
Bewaard in:
Hoofdauteur: | Горлов, М. И. (070) |
---|---|
Formaat: | Книга |
Onderwerpen: | |
Online toegang: | Перейти к просмотру издания |
Tags: |
Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
|
Gelijkaardige items
-
Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
door: Горлов М. И.
Gepubliceerd in: (2020) -
Современное производство изделий микроэлектроники учебное пособие
door: Васильев, В. Ю. -
Методы контроля качества сварных конструкций промышленных зданий и строительных машин учебное пособие
door: Гордиенко, В. Е. - Системно-деятельностный подход: диагностический инструментарий оценивания метапредметных результатов профессионально-педагогического образования материалы организационно-деятельностной игры (оди-3) (г. иркутск, 25 апреля 2013 г.)
-
Средства контроля качества сварных конструкций промышленных зданий и строительных машин учебное пособие
door: Гордиенко, В. Е.