Weiter zum Inhalt

Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Горлов, М. И. (070)
Format: Книга
Schlagworte:
Online Zugang:Перейти к просмотру издания
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!