Joan edukira

Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...

Deskribapen osoa

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Горлов, М. И. (070)
Formatua: Книга
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:Перейти к просмотру издания
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!