Физические основы современных методов исследования материалов учебное пособие
Рассмотрены физические процессы, законы и явления, лежащие в основе различных методов исследования материалов, таких как сканирующая зондовая микроскопия, растровая электронная микроскопия, ИК-спектроскопия, рентгеновская дифрактометрия и др. Представлен материал для самостоятельной работы в виде пр...
Պահպանված է:
Հիմնական հեղինակ: | |
---|---|
Ձևաչափ: | Книга |
Խորագրեր: | |
Առցանց հասանելիություն: | Перейти к просмотру издания |
Ցուցիչներ: |
Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
|
Ֆիզիկական նկարագրություն: | Книга находится в премиум-версии IPR SMART. |
---|---|
ISBN: | 978-5-8149-3367-6 |