Физические основы современных методов исследования материалов учебное пособие
Рассмотрены физические процессы, законы и явления, лежащие в основе различных методов исследования материалов, таких как сканирующая зондовая микроскопия, растровая электронная микроскопия, ИК-спектроскопия, рентгеновская дифрактометрия и др. Представлен материал для самостоятельной работы в виде пр...
保存先:
第一著者: | Рогачев, Е. А. (070) |
---|---|
フォーマット: | Книга |
主題: | |
オンライン・アクセス: | Перейти к просмотру издания |
タグ: |
タグ追加
タグなし, このレコードへの初めてのタグを付けませんか!
|
類似資料
-
Физические основы методов контроля и испытания учебное пособие
著者:: Дьяков, С. Н. -
Основы спектроскопических методов исследования
著者:: Тарала, В. А., 等
出版事項: (2023) - Физические основы, методы исследования и практическое применение пьезоматериалов
-
Микроскопические методы исследования материалов монография
著者:: Кларк, Э. Р. -
Практика металлографического исследования материалов
著者:: Анисович, А. Г.