Пропуск в контексте

Технологии многоуровневой металлизации интегральных микросхем учебное пособие

Рассмотрена совокупность вопросов, связанных с созданием многоуровневых систем металлизации интегральных микросхем по технологическим маршрутам, обобщенно называемым Back-End-Of-Line (BEOL). Охарактеризованы проблемы и решения создания проводящих и металлических тонких пленок, пленок диэлектрических...

全面介紹

Сохранить в:
書目詳細資料
主要作者: Васильев, В. Ю. (070)
格式: Книга
主題:
在線閱讀:Перейти к просмотру издания
標簽: 添加標簽
沒有標簽, 成為第一個標記此記錄!