Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем учебное пособие
Изложены описания основных современных методов исследования и диагностического оборудования для контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем. Раскрыты возможности этих методов. Показано, каким образом совместное ис...
Bewaard in:
Hoofdauteur: | Смирнов, С. В. (070) |
---|---|
Formaat: | Книга |
Onderwerpen: | |
Online toegang: | Перейти к просмотру издания |
Tags: |
Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
|
Gelijkaardige items
-
Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем
door: Смирнов С. В.
Gepubliceerd in: (2010) -
Программирование логических интегральных схем учебное пособие
door: Холопов, С. И. -
Производство гибридных интегральных схем учебное пособие
door: Родионов, Ю. А. -
Реализация цифровых устройств в базисе программируемых логических интегральных схем учебное пособие
door: Строгонов, А. В. - Функционально интегрированные элементы интегральных схем и микросистем