Anar al contingut

Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем учебное пособие

Изложены описания основных современных методов исследования и диагностического оборудования для контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем. Раскрыты возможности этих методов. Показано, каким образом совместное ис...

Descripció completa

Guardat en:
Dades bibliogràfiques
Autor principal: Смирнов, С. В. (070)
Format: Книга
Matèries:
Accés en línia:Перейти к просмотру издания
Etiquetes: Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!