Пропуск в контексте

Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем учебное пособие

Изложены описания основных современных методов исследования и диагностического оборудования для контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем. Раскрыты возможности этих методов. Показано, каким образом совместное ис...

Fuld beskrivelse

Сохранить в:
Bibliografiske detaljer
Hovedforfatter: Смирнов, С. В. (070)
Format: Книга
Fag:
Online adgang:Перейти к просмотру издания
Tags: Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!