Weiter zum Inhalt

Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем учебное пособие

Изложены описания основных современных методов исследования и диагностического оборудования для контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем. Раскрыты возможности этих методов. Показано, каким образом совместное ис...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Смирнов, С. В. (070)
Format: Книга
Schlagworte:
Online Zugang:Перейти к просмотру издания
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!