Siirry sisältöön

Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем учебное пособие

Изложены описания основных современных методов исследования и диагностического оборудования для контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем. Раскрыты возможности этих методов. Показано, каким образом совместное ис...

Täydet tiedot

Tallennettuna:
Bibliografiset tiedot
Päätekijä: Смирнов, С. В. (070)
Aineistotyyppi: Книга
Aiheet:
Linkit:Перейти к просмотру издания
Tagit: Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!