Saltar ao contenido

Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем учебное пособие

Изложены описания основных современных методов исследования и диагностического оборудования для контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем. Раскрыты возможности этих методов. Показано, каким образом совместное ис...

Descrición completa

Gardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Смирнов, С. В. (070)
Formato: Книга
Темы:
Acceso en liña:Перейти к просмотру издания
Метки: Engadir etiqueta
Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!