Preskoči na sadržaj

Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем учебное пособие

Изложены описания основных современных методов исследования и диагностического оборудования для контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем. Раскрыты возможности этих методов. Показано, каким образом совместное ис...

Cijeli opis

Spremljeno u:
Bibliografski detalji
Glavni autor: Смирнов, С. В. (070)
Format: Книга
Teme:
Online pristup:Перейти к просмотру издания
Oznake: Dodaj oznaku
Bez oznaka, Budi prvi tko označuje ovaj zapis!