Salta al contenuto

Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем учебное пособие

Изложены описания основных современных методов исследования и диагностического оборудования для контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем. Раскрыты возможности этих методов. Показано, каким образом совместное ис...

Descrizione completa

Salvato in:
Dettagli Bibliografici
Autore principale: Смирнов, С. В. (070)
Natura: Книга
Soggetti:
Accesso online:Перейти к просмотру издания
Tags: Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne! !