Ga door naar de inhoud

Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем учебное пособие

Изложены описания основных современных методов исследования и диагностического оборудования для контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем. Раскрыты возможности этих методов. Показано, каким образом совместное ис...

Volledige beschrijving

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Смирнов, С. В. (070)
Formaat: Книга
Onderwerpen:
Online toegang:Перейти к просмотру издания
Tags: Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!