Przejdź do treści

Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем учебное пособие

Изложены описания основных современных методов исследования и диагностического оборудования для контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем. Раскрыты возможности этих методов. Показано, каким образом совместное ис...

Szczegółowa specyfikacja

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Смирнов, С. В. (070)
Format: Книга
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:Перейти к просмотру издания
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!