Pular para o conteúdo

Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем учебное пособие

Изложены описания основных современных методов исследования и диагностического оборудования для контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем. Раскрыты возможности этих методов. Показано, каким образом совместное ис...

ver descrição completa

Na minha lista:
Detalhes bibliográficos
Autor principal: Смирнов, С. В. (070)
Formato: Книга
Assuntos:
Acesso em linha:Перейти к просмотру издания
Tags: Adicionar Tag
Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!