Пропуск в контексте

Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем учебное пособие

Изложены описания основных современных методов исследования и диагностического оборудования для контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем. Раскрыты возможности этих методов. Показано, каким образом совместное ис...

Popoln opis

Shranjeno v:
Bibliografske podrobnosti
Glavni avtor: Смирнов, С. В. (070)
Format: Книга
Teme:
Online dostop:Перейти к просмотру издания
Oznake: Označite
Brez oznak, prvi označite!