Hoppa till innehåll

Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем учебное пособие

Изложены описания основных современных методов исследования и диагностического оборудования для контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем. Раскрыты возможности этих методов. Показано, каким образом совместное ис...

Full beskrivning

Sparad:
Bibliografiska uppgifter
Huvudupphovsman: Смирнов, С. В. (070)
Materialtyp: Книга
Ämnen:
Länkar:Перейти к просмотру издания
Taggar: Lägg till en tagg
Inga taggar, Lägg till första taggen!