İçeriği atla

Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем учебное пособие

Изложены описания основных современных методов исследования и диагностического оборудования для контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем. Раскрыты возможности этих методов. Показано, каким образом совместное ис...

Ful tanımlama

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Yazar: Смирнов, С. В. (070)
Materyal Türü: Книга
Konular:
Online Erişim:Перейти к просмотру издания
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!