Пропуск в контексте

Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии учебно-методическое пособие

Дано краткое описание способа измерения ширины запрещенной зоны и толщины гетероэпитаксиальных узкозонных полупроводников методом определения спектральных зависимостей коэффициентов поглощения и отражения на ИК Фурье-спектрометре. В работе кратко изложена теория механизмов поглощения и отражения в п...

Popoln opis

Shranjeno v:
Bibliografske podrobnosti
Glavni avtor: Величко, А. А. (070)
Format: Книга
Teme:
Online dostop:Перейти к просмотру издания
Oznake: Označite
Brez oznak, prvi označite!