Пропуск в контексте

Основы технологии электронной компонентной базы методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов. лабораторный практикум

В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы». Предназнач...

Полное описание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Рабинович, О. И. (070)
Формат: Книга
Темы:
Online-ссылка:Перейти к просмотру издания
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!