Основы технологии электронной компонентной базы методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов. лабораторный практикум
В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы». Предназнач...
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Формат: | Книга |
| Темы: | |
| Online-ссылка: | Перейти к просмотру издания |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
| LEADER | 02653nam0a2200349 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | RU/IPR SMART/56231 | ||
| 856 | 4 | |u https://www.iprbookshop.ru/56231.html |z Перейти к просмотру издания | |
| 801 | 1 | |a RU |b IPR SMART |c 20250903 |g RCR | |
| 010 | |a 978-5-87623-710-1 | ||
| 205 | |a Основы технологии электронной компонентной базы |b 2027-03-01 | ||
| 333 | |a Гарантированный срок размещения в ЭБС до 01.03.2027 (автопролонгация) | ||
| 100 | |a 20250903d2013 k y0rusy01020304ca | ||
| 105 | |a y j 000zy | ||
| 101 | 0 | |a rus | |
| 102 | |a RU | ||
| 200 | 1 | |a Основы технологии электронной компонентной базы |e методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов. лабораторный практикум |f О. И. Рабинович, Д. Г. Крутогин | |
| 700 | 1 | |a Рабинович, |b О. И. |4 070 | |
| 701 | 1 | |a Крутогин, |b Д. Г. |4 070 | |
| 330 | |a В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы». Предназначен для студентов, обучающихся по направлению 210100 в качестве бакалавров, инженеров и магистров, при выполнении лабораторных работ, подготовке дипломных работ и магистерских диссертаций. | ||
| 210 | |a Москва |c Издательский Дом МИСиС |d 2013 | ||
| 610 | 1 | |a компонентная база | |
| 610 | 1 | |a электронная база | |
| 610 | 1 | |a тонкопленочный материал | |
| 675 | |a 62 | ||
| 686 | |a 32.85 |2 rubbk | ||
| 300 | |a Книга находится в премиум-версии IPR SMART. | ||
| 106 | |a s | ||
| 230 | |a Электрон. дан. (1 файл) | ||
| 336 | |a Текст | ||
| 337 | |a электронный | ||
| 503 | 0 | |a Доступна эл. версия. IPR SMART | |
| 215 | |a 42 с. | ||