Μετάβαση στο περιεχόμενο

Основы технологии электронной компонентной базы методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов. лабораторный практикум

В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы». Предназнач...

Πλήρης περιγραφή

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Рабинович, О. И. (070)
Μορφή: Книга
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Перейти к просмотру издания
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!