Pular para o conteúdo

Основы технологии электронной компонентной базы методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов. лабораторный практикум

В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы». Предназнач...

ver descrição completa

Na minha lista:
Detalhes bibliográficos
Autor principal: Рабинович, О. И. (070)
Formato: Книга
Assuntos:
Acesso em linha:Перейти к просмотру издания
Tags: Adicionar Tag
Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!