Пропуск в контексте

Основы технологии электронной компонентной базы методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов. лабораторный практикум

В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы». Предназнач...

全面介紹

Сохранить в:
書目詳細資料
主要作者: Рабинович, О. И. (070)
格式: Книга
主題:
在線閱讀:Перейти к просмотру издания
標簽: 添加標簽
沒有標簽, 成為第一個標記此記錄!