Joan edukira

Сверхтвердые материалы. Рентгенографические, электронно-микроскопические и дериватографические методы исследования сверхтвердых материалов практикум

В практикуме рассмотрены методики решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронной микроскопии, анализу дефектов кристаллического строения и методу дериватографического анализа. Практикум предназначен для студентов, обучающихся по направлению 150100 «Материаловедение и технологии материало...

Deskribapen osoa

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Полушин, Н. И. (070)
Formatua: Книга
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:Перейти к просмотру издания
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!
Deskribapena
Deskribapen fisikoa:Книга находится в премиум-версии IPR SMART.
ISBN:978-5-87623-796-5