Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия учебное пособие
Кратко изложены теоретические основы метода рентгеновской рефлектометрии. Содержание пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому по направлению подготовки магистров 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программ...
Gorde:
Egile nagusia: | Бублик, В. Т. (070) |
---|---|
Formatua: | Книга |
Gaiak: | |
Sarrera elektronikoa: | Перейти к просмотру издания |
Etiketak: |
Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!
|
Antzeko izenburuak
-
Дифракционные методы изучения поверхностных слоев и приборных структур учебное пособие
nork: Бублик, В. Т. - Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур ионная имплантация. учебное пособие
-
Измерение параметров оптических волокон. Поляризационные измерения. Рефлектометрия
Argitaratua: (2020) -
Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия курс лекций
nork: Бублик, В. Т. -
Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов учебное пособие
nork: Векилова, Г. В.