Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия учебное пособие
Кратко изложены теоретические основы метода рентгеновской рефлектометрии. Содержание пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому по направлению подготовки магистров 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программ...
Պահպանված է:
Հիմնական հեղինակ: | Бублик, В. Т. (070) |
---|---|
Ձևաչափ: | Книга |
Խորագրեր: | |
Առցանց հասանելիություն: | Перейти к просмотру издания |
Ցուցիչներ: |
Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
|
Նմանատիպ նյութեր
-
Дифракционные методы изучения поверхностных слоев и приборных структур учебное пособие
: Бублик, В. Т. - Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур ионная имплантация. учебное пособие
-
Измерение параметров оптических волокон. Поляризационные измерения. Рефлектометрия
Հրապարակվել է: (2020) -
Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия курс лекций
: Бублик, В. Т. -
Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов учебное пособие
: Векилова, Г. В.