Пропуск в контексте

Внутрисхемное тестирование цифровых электронных компонентов практикум

В практикуме рассматриваются основные приемы внутрисхемного тестирования цифровых электронных компонентов, приводятся задания по темам лабораторных работ. Издание предназначено для студентов, обучающихся по направлению 09.03.01 «Информатика и вычислительная техника» (профиль «Вычислительные машины,...

Popoln opis

Shranjeno v:
Bibliografske podrobnosti
Format: Книга
Teme:
Online dostop:Перейти к просмотру издания
Oznake: Označite
Brez oznak, prvi označite!