Внутрисхемное тестирование цифровых электронных компонентов практикум
В практикуме рассматриваются основные приемы внутрисхемного тестирования цифровых электронных компонентов, приводятся задания по темам лабораторных работ. Издание предназначено для студентов, обучающихся по направлению 09.03.01 «Информатика и вычислительная техника» (профиль «Вычислительные машины,...
Salvato in:
| Natura: | Книга |
|---|---|
| Soggetti: | |
| Accesso online: | Перейти к просмотру издания |
| Tags: |
Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne! !
|
| Descrizione fisica: | Книга находится в премиум-версии IPR SMART. |
|---|---|
| ISBN: | 978-5-7731-0778-1 |