Внутрисхемное тестирование цифровых электронных компонентов практикум
В практикуме рассматриваются основные приемы внутрисхемного тестирования цифровых электронных компонентов, приводятся задания по темам лабораторных работ. Издание предназначено для студентов, обучающихся по направлению 09.03.01 «Информатика и вычислительная техника» (профиль «Вычислительные машины,...
שמור ב:
| פורמט: | Книга |
|---|---|
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | Перейти к просмотру издания |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
