Внутрисхемное тестирование цифровых электронных компонентов практикум
В практикуме рассматриваются основные приемы внутрисхемного тестирования цифровых электронных компонентов, приводятся задания по темам лабораторных работ. Издание предназначено для студентов, обучающихся по направлению 09.03.01 «Информатика и вычислительная техника» (профиль «Вычислительные машины,...
保存先:
フォーマット: | Книга |
---|---|
主題: | |
オンライン・アクセス: | Перейти к просмотру издания |
タグ: |
タグ追加
タグなし, このレコードへの初めてのタグを付けませんか!
|
類似資料
-
Модели электронных компонентов учебное пособие
著者:: Ефимов, И. П. -
Тестирование компонентов и комплексов программ учебник
著者:: Липаев, В. В. -
Аспекты проектирования электронных схем на основе микроконтроллеров учебное пособие для спо
著者:: Слесарев, А. И. -
Диагностика автомобиля с использованием программного обеспечения ESI[tronic] 2.0 и тестера KTS 540 пособие
著者:: Булавицкий, Д. В. -
Основы конструирования высокоскоростных электронных устройств. Краткий курс «белой магии»
著者:: Белоус, А. И.