Внутрисхемное тестирование цифровых электронных компонентов практикум
В практикуме рассматриваются основные приемы внутрисхемного тестирования цифровых электронных компонентов, приводятся задания по темам лабораторных работ. Издание предназначено для студентов, обучающихся по направлению 09.03.01 «Информатика и вычислительная техника» (профиль «Вычислительные машины,...
Збережено в:
Формат: | Книга |
---|---|
Предмети: | |
Онлайн доступ: | Перейти к просмотру издания |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Схожі ресурси
-
Модели электронных компонентов учебное пособие
за авторством: Ефимов, И. П. -
Тестирование компонентов и комплексов программ учебник
за авторством: Липаев, В. В. -
Аспекты проектирования электронных схем на основе микроконтроллеров учебное пособие для спо
за авторством: Слесарев, А. И. -
Диагностика автомобиля с использованием программного обеспечения ESI[tronic] 2.0 и тестера KTS 540 пособие
за авторством: Булавицкий, Д. В. -
Основы конструирования высокоскоростных электронных устройств. Краткий курс «белой магии»
за авторством: Белоус, А. И.